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泰思肯VEGA 3 LMU/LMH扫描电镜
技术参数:1. 分辨率: 高真空(二次电子3.0nm at 30kv,8.0nm at 3kv (背散射电子): 3.5 nm at 30 kV(LMH型选配,LMU型
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泰思肯微型扫描电子显微镜Small Base
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泰思肯集成矿物分析仪 TIMA-X(GM)
分析。 TIMA的应用范围很宽,包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了
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Helios Hydra 双光束FIB-SEM
全新的Helios Hydra双光束系统,研究人员现在可以在一个聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)中使用氩、氮、氧和氙四种不同的离子束流。在不牺牲性能的前提下,使用者可在十分钟内快速、轻松地
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泰思肯VEGA3 GMH/VEGA3 GMU扫描电镜
VEGA3 GM是一款由计算机控制,可在高低真空模式下工作的全自动钨灯丝(选配LaB6)扫描电子显微镜,具有突出的光学性能,清晰的数字化图像,成熟的操作软件,用户界面友好等特征。基于
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泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜
I.影像显示尺寸 1)实时图像显示尺寸:共有512x512, 768x768, 1024x1024等3种方式。 2)储存图像显示尺寸:共有512x512, 768x768
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FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB
SEM:分辨率:3.5nm at 30kV高真空模式、ESEM环境真空模式 SEM:加速电压200V-30kV FIB:分辨率 7nm at 30kV; FIB:加速电压
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高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
,不但可以在低加速电压下实现高分辨观察,还可以在FIB加工时实现实时观察。SEM镜筒内标配3个探测器,可同时观察到二次电子信号的形貌像以及背散射电子信号的成分衬度像;可非常方便的帮助FIB找寻到纳米
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TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)
性能FIB切割、信号采集、3维重构(断层摄影术),3D EBSD、3D EBIC与集成3维可视化成熟的SEM/FIB/GIS操作软件,图像采集、存档、处理和分析功能FERA3配置FERA3 XMH是
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PP3010 Cryo-FIB/SEM 冷冻传输制备系统
)Versa 3 D FIB/SEM)太阳神 650 (FIB/SEM)。J停产JEOL 7800F FE-SEM.日立高新技术左:日立SU500 FE-SEM。右图:日立SU8230 FE-SEM
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